Questo approccio innovativo al test, con DFT (Design For Testability) & BIST (Built-In Self-Test), consente di effettuare la quasi totalità del test del dispositivo, sulla piattaforma di test ELES: si combinano così Stress e Test insieme e si ottiene la piena applicabilità della offerta R.E.T.E. (Reliability Embedded Test Engineering), l'elemento distintivo di ELES.
ELES a questo punto, può vantare Librerie per coprire con il TDBI e RETE le principali famiglie di dispositivi a semiconduttore: Memory, SOC Micro con Embedded Memory, MEMS, Smart Power.
"ELES vuole portare lo stesso tipo di approccio anche sulla famiglia di dispositivi SMART POWER", ha spiegato Francesca Zaffarami, Amministratore Delegato di ELES, aggiungendo "entro il mese di luglio contiamo di chiudere la fase di sviluppo interno di una prima
Applicazione. Seguirà la fase di validazione, ossia la correlazione delle misure eseguite su ATE (Automatic Test Equipment) con quelle eseguite sulla nostra piattaforma ART".
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